定制式义齿注册技术审查指导原则.pdf

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参考:管电压40KV,距胶?1m,。管电压40KV,距胶?1m,。??的暗室处理应按胶?的使?说明书或公认的有效?法处理。?的?动冲洗应注意精确控制胶?显影、定影、?洗和?燥等?序的温度、传送速度和药液的补充。???冲洗宜采?槽浸?式,在规定的温度(20℃左右)和时间内进?显影、定影等操作不允许在显影时?红灯观察来调整显影时间,以弥补曝光量不当来调整胶??度。定影后的胶?应充分?洗和除污处理,以防?产??迹。?定期添加补充液的?法来保持显影性能的恒定。?的观察射线胶?应在背景照明较低的场所观察,观?灯的亮度和照明范围应可调节,胶?的观察条件应符合表1规定。?眼观察将义齿影像中的?度与像质计影像的各阶梯?度?较,判定义齿相应部位的厚度,及是否存在厚度?于要求的缺陷。?密度计测量义齿的相关部位,与像质计影像的各阶梯密度值?较,判定义齿相应部位的厚度。?记录每次完成的射线照相操作。其中?少包括样品编号(此编号也应出现在胶?上)、义齿名称、测量部位的厚度和照相部位、照相?期以及完整的射线照相技术参数等,其详细程度应达到易于重复进?同样的射线照相检验。记录中还应记?阅??员对所发现的各种义齿缺陷及对其做出的判定,以及阅?者的签名。?法?:?属内部质量—X射线照相(数字成像)试验?(如?属冠、?属桥、烤瓷冠、烤瓷桥等)将义齿的咬合?放置在?科?胶?表?的中?位置。(如整铸?架义齿、局部义齿等),应将卡环及其连接部分,从义齿主体上切割分离,然后将卡环连接体部分固定在X光胶?表?的中?,使卡环连接部位的内侧(与?体接触?侧)表?向上放置。(如?杆和腭杆),将需照射的连接杆分离,并将分离开的连接杆尽量展平。将展平的连接杆直接放置在X光胶?表?的中?。光胶?表?的中?。??科专?孔型像质计。像质计放置在待照射的义齿旁,像质计的薄板?向下放置。?的数字照?在显?器上应能显?出像质计的清晰图像,并能观察到所有不同阶梯?度的圆孔。注:数字照?。推荐以下参数作为参考:管电压40KV,距胶?1m,。?眼观察将义齿影像中的?度与像质计影像的各阶梯?度?较,判定义齿相应部位的厚度,及是否存在厚度?于要求的缺陷。?打印,可以使?密度计测量义齿的相关部位,与像质计影像的各阶梯密度值?较,判定义齿相应部位的厚度。?记录每次完成的射线照相操作。其中?少包括样品编号(此编号也应出现在胶?上)、义齿名称、测量部位的厚度和照相部位、照相?期以及完整的射线照相技术参数等,其详细程度应达到易于重复进?同样的射线照相检验。记录中还应记?阅??员对所发现的各种义齿缺陷及对其做出的判定,以及阅?者的签名。?法三:义齿基托树脂部分的?稳定性试验?—。(或截取)定制式活动义齿中义齿基托树脂较宽区域,其中部分被锡箔或铝箔覆盖,置?试验箱中的照射光源下,并浸?(37±5)℃?中,照射24h。在阴天漫反射?光下或其光线不低于1000lx,三个观察者??观察照射部分与被锡箔或铝箔覆盖部分颜?的差别,观察时间不?于2s。?差别的评定,取其两个或两个以上相同的评定作为试验结果。定制式活动义齿中义齿基托树脂的颜?,被照射部分与未被照射部分?较只能有轻微(很难察觉)的变化。